1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| IEEE | uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5044-5975-4 |